Kiam N-tipa ina konektilo spertas malbonan kontakton, kiel ni pritraktu ĝin? Ni mallonge enkondukos tri aspektojn: kontinuectestado, momenta malkonekttestado kaj unu-trua apartiga fortotestado.
1. Testado pri kontinueco: Nuntempe, plej multaj fabrikantoj de N-tipaj konektiloj ne inkluzivas ĉi tiun teston en sia produkta akceptotestado, sed klientoj kutime postulas kontinuectestadon post unu-klaka instalado. Tial ni rekomendas, ke fabrikantoj realigu 100% individuajn kontinuecajn provojn sur iuj ŝlosilaj modeloj.
2. Momenta Malkonektprovado: Kelkaj N-tipaj inaj konektiloj estas uzataj en dinamikaj vibraj medioj. Eksperimentoj povas nur pruvi ĉu la senmova kontaktorezisto renkontas la normon, kaj ne povas garantii stabilecon en dinamikaj medioj. Ĉar konektiloj kun kvalifikita kontaktorezisto ankoraŭ povas sperti momentan perdon de potenco dum vibrado, ŝoko kaj aliaj ŝajnigaj mediaj testoj, estas plej bone fari 100% dinamikan vibradotestadon sur iuj N-virinaj konektiloj kun altaj fidindecpostuloj por taksi ilian kontaktfidindecon.
3. Testado de unu-trua apartiga forto: unu-trua apartiga forto rilatas al la forto bezonata por ke la kontaktkomponento apartigus de senmova stato kiam en la parigita stato. Testrezultoj montras ke nesufiĉa apartiga forto en ununura truo povas kaŭzi momentajn interrompojn en datumtranssendosignaloj sub vibrado kaj efikŝarĝoj. Mezuri la apartigforton de ununura truo estas pli efika ol mezurado de kontaktorezisto en kontrolado de kontaktofidindeco. Testrezultoj indikas ke por ingoj kun devioj en unu-trua apartigforto, preciza mezurado ĝenerale rivelas ke la kontaktorezisto renkontas normojn.